絕緣電阻表也叫做兆歐表、絕緣電阻測(cè)試儀， 數(shù)字兆歐表主要用于檢查電氣設(shè)備或電氣線路對(duì)地及相間的絕緣電阻性能以保證這些設(shè)備工作正常，該兆歐表容量大、雙刻度顯示，量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換、抗干擾強(qiáng)、并采用交直流供電方式、操作簡(jiǎn)單。
 

　　首先，會(huì)有哪些因素會(huì)造成絕緣電阻表的測(cè)量絕緣電阻數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確呢？接下來(lái)跟大家一起分享下：
 

　　1.可調(diào)數(shù)字兆歐表電池電壓不足。電池電壓欠壓過(guò)低，造成電路不能正常工作，所以測(cè)出的讀數(shù)是不準(zhǔn)確的。
 

　　2.測(cè)試線接法不正確。誤將"L"、"G"、"E"三端接線接錯(cuò)，或?qū)?G"、"L"連線"G"、"E"連線接在被測(cè)試品兩端。
 

　　3."G"端連線未接。被測(cè)試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差，造成測(cè)試不準(zhǔn)確，此時(shí)必須接好"G"湍連線防止泄漏電流引起誤差。
 

　　4.干擾過(guò)大。如果被測(cè)試品受環(huán)境電磁干擾過(guò)大，造成儀表讀數(shù)跳動(dòng)?；蛑羔樆蝿?dòng)。造成讀數(shù)不準(zhǔn)確。
 

　　5.人為讀數(shù)錯(cuò)誤。在用指針式兆歐表測(cè)量時(shí)，由于人為視角誤差或標(biāo)度尺誤差造成示值不準(zhǔn)確。
 

　　6.絕緣電阻表的誤差。絕緣電阻測(cè)試儀本身誤差過(guò)大，需要重新校對(duì)。
 

　　造成該現(xiàn)象主要是試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)某部位出現(xiàn)放電打火。絕緣表向容性被測(cè)試品充電中，當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí)，如果儀表內(nèi)部測(cè)試線或被測(cè)試品中任一部位有擊穿放電打火，就會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
 

　　其次，我們來(lái)了解下為什么不同兆歐表的測(cè)量結(jié)果會(huì)存在差異呢?
 

　　由于高壓兆歐表測(cè)試電源非理想電壓源，內(nèi)阻Ri不同測(cè)量回路串接電阻Rm不同，動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度不同，以及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量操作的不合理或失誤等，不同型號(hào)兆歐表對(duì)同—被測(cè)試品的測(cè)量結(jié)果會(huì)存在差異。實(shí)際測(cè)量時(shí)，應(yīng)結(jié)合兆歐表絕緣試驗(yàn)條件的特殊性盡量降低可能出現(xiàn)的各種測(cè)量誤差;
 

　　1、不同型號(hào)的絕緣表測(cè)量同一試品時(shí)，應(yīng)采用相同的電壓等級(jí)和接線方法。例如在測(cè)量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當(dāng)繞組引出端始終接兆歐表L端鈕時(shí)，就有:E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法;E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法(低電位屏蔽)﹔G端鈕接在高壓繞組套管的表面，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法(高電位屏蔽)。E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線方法。不同結(jié)構(gòu)、制式的兆歐表，G端鈕電位不同，G端鈕在套管表面的安放位置也應(yīng)隨之改變。
 

　　2、不同型號(hào)兆歐表的量程和示值的刻度方法不同，刻度分辨力不同，測(cè)量準(zhǔn)確度等級(jí)不同，都會(huì)引起示值間的差異。為了保證對(duì)電力設(shè)備的準(zhǔn)確測(cè)量，應(yīng)避免選用準(zhǔn)確度低，使用不方便的搖表。
 

　　3、試品大多含容性分量,并存在介質(zhì)極化現(xiàn)象，即使測(cè)試條件相同也難以獲得理想的數(shù)據(jù)重復(fù)性。
 

　　4、測(cè)量時(shí),絕緣介質(zhì)的溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度一致，一般允許相差±5%。
 

　　5、應(yīng)在特定時(shí)間段的允許時(shí)間差范圍內(nèi)，盡快地讀取測(cè)量值。為使測(cè)量誤差不于±5%，讀取R6OS的時(shí)間允許誤差±3S,而讀取15S的時(shí)間不應(yīng)相差±1S。
 

　　6、高壓測(cè)試電源非理想電壓源，賴(lài)荷(被測(cè)試品絕緣電阻值小)時(shí)，輸出電壓低于其額定值,這將導(dǎo)致單支路直讀測(cè)量法兆歐表測(cè)量準(zhǔn)確度因轉(zhuǎn)換系數(shù)的改變而降低。這種改變因兆歐表測(cè)試電源負(fù)荷特性不同而異。
 

　　7、不同動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)的兆歐表，試驗(yàn)電壓在試品上(及采樣電阻上)的建立過(guò)程與對(duì)試品的充電能力均存在差異，測(cè)量結(jié)果也會(huì)不同，使用低于動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)[門(mén)限值的兆歐表測(cè)量時(shí)，由于儀表存在慣性網(wǎng)絡(luò)(包括指針式儀表的機(jī)械慣性)導(dǎo)致示值響應(yīng)速度較慢，來(lái)不及正確反映試品實(shí)在絕緣電阻值隨時(shí)間的變化規(guī)律，尤其是在測(cè)試的起始階段,電容充電電流未*衰減為零,更會(huì)使R15S和吸收比讀測(cè)值產(chǎn)生較大誤差(偏小)。
 

　　8、試品絕緣介質(zhì)極化狀況與外加試驗(yàn)電壓大小有關(guān)。由于試驗(yàn)電壓不能迅速達(dá)到額定值，或因兆歐表測(cè)試電源負(fù)荷特性不同導(dǎo)致施加于試品上試驗(yàn)電壓的差異，使試品初始極化狀況不同，導(dǎo)致吸收電流不同，使緣電阻測(cè)量的示值不同。
 

　　9、國(guó)外某些兆歐表的試驗(yàn)高電壓連續(xù)可調(diào)，開(kāi)機(jī)后先由零調(diào)節(jié)至額定值。兆歐表讀數(shù)起始時(shí)間的不確定性,以及高壓達(dá)到額定值時(shí)間的不確定性，使試品初始極化不同，也將引|起示值間的差別。
 

　　10、不同兆歐表現(xiàn)場(chǎng)干擾的敏感度和抵御能力不同，對(duì)同一試品的讀測(cè)值會(huì)存在差異。
 

　　11、數(shù)據(jù)隨機(jī)起伏的常規(guī)測(cè)量誤差和兆歐表方法誤差不同等弓|起示值間的差異。
 

　　12、介質(zhì)放電不充分是重復(fù)測(cè)量結(jié)果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對(duì)應(yīng)和可逆的特點(diǎn)，若需對(duì)同一試品進(jìn)行第二次重復(fù)測(cè)量，第一次測(cè)量結(jié)束后的試品短路放電間歇時(shí)間一般應(yīng)長(zhǎng)于測(cè)量時(shí)間， 以放盡所積聚的吸收電荷量,使試品絕緣介質(zhì)充分恢復(fù)到原先無(wú)極化狀態(tài)，否則將影響第二次測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。為使被試品上無(wú)剩余電荷，每次試驗(yàn)前也應(yīng)該將測(cè)量端對(duì)地短路放電，有時(shí)甚至需時(shí)近1小時(shí)，并應(yīng)拆除與無(wú)關(guān)設(shè)備間的聯(lián)線?？傊辉嚻凡煌瑫r(shí)期的絕緣測(cè)量，應(yīng)采用相同的試驗(yàn)電壓等級(jí)和接線方法，并盡可能使用同一型號(hào)或性能相近的絕緣電阻表，以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的可比性。
 

　　13、最后還應(yīng)特別強(qiáng)調(diào)選用動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度較低和高壓測(cè)試電源容量較低的儀表，由于電容充電電流尚未*衰減為零，以及儀表示值不能準(zhǔn)確地實(shí)時(shí)跟隨試品視在絕緣電阻值的變化，讀測(cè)R15S阻值偏低，出現(xiàn)較大誤差，導(dǎo)致試品吸收比測(cè)試值虛假偏高，應(yīng)引|起測(cè)試人員特別重視。這也可能是各種型號(hào)高壓兆歐表測(cè)量同一試品時(shí)吸收比讀測(cè)值存在差異的主要原因。由此也說(shuō)明吸收比判此指標(biāo)不及極化指數(shù)科學(xué)和客觀。
 

　　最后，絕緣電阻表的測(cè)量絕緣電阻數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確該如何解決呢：
 

　　1.絕緣電阻表測(cè)試座不接入測(cè)試線，開(kāi)啟電源和高壓，看儀表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生(若有打火可聽(tīng)到放電打火聲)。
 

　　2.接上L、G、E測(cè)試線，不接被測(cè)試品，L測(cè)試線末端線夾懸空，開(kāi)啟高壓，看測(cè)試導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生。若有打火現(xiàn)象，則檢查: a)L、G測(cè)試線芯線〔L端)與裸露在外的線(G端)是否過(guò)近，產(chǎn)生拉弧打火。b)L端芯線插頭與測(cè)試座屏蔽環(huán)或測(cè)試夾子與被測(cè)試品接觸不良造成打火。c)測(cè)試線與插頭、夾子之間虛焊斷路，造成間隙放電。
 

　　3.接入被測(cè)試品，檢查末端線夾與試品接觸點(diǎn)附近有無(wú)放電打火。